MicroContact AG
     Hersteller von Prüfmaschinen und
     Adapter für den Leiterplattentest
     auf feinste Teststrukturen.

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Titelbilder

Titelbilder der Firma MicroContact AG.

Die Synergie von Maschinenbau,
Adapterbau, Prüfzentrum und
Softwareentwicklung ermöglichen
das Generieren von optimalen
Kundenlösungen im Bereich vom
Open-/Short- und Funktionstest.

MCom: Funktionstest

Mikrotester MCom für das Testen von feinsten Leiterplatten mit HDI Strukturen     Links:
     
Beim Funktionstest muss beim Handling und beim Kontaktieren auf die Komponenten auf den Substraten Rücksicht genommen werden. Beim Starrnadeladapter müssen gewisse Regeln (Abstand Bauteil zu Testpunkt) eingehalten werden, ansonsten gibt es mit der MCom kaum Prüfeinschränkungen.
Microtester für den Funktionstest  

Innenansicht eines Funktions-Testers:
Links: Magazinhandling mit 6 Magazinplätzen
Mitte: PRS und DMC-Leser
Rechts: Doppelseitige Kontaktierung

Prüfablauf:
Ein Nutzen wird mit dem X/Y-Handling aus dem Magazin entnommen und unter dem PRS auf die Lage vermessen. Anschliessend wird ein DMC Code gelsen, damit die Testergebnisse dem Nutzen zugewiesen werden können. Nun wird ein oder mehrere Prürflinge zusammen kontaktiert. Pro Kontaktierung ermittelt die Software die optimalen Werte für das X/Y-Handling, die Theta-Auslenkung vom oberen Adapter und die X, Y und Tehta- Auslenkung für den unteren Adapter. Nach dem Funktionstest, wird der Nutzen wieder zurück ins Magazin gegeben.

     
Adapter für den Test von bestückten Substraten  

Starrnadeladapter für bestückte Substrate:
Beim Prüfen von bestückten Substraten muss auf die Bauteile und Bonds geachtet werden. Bei wenigen Bauteilen können in den Adapter Aussparungen gefräst werden, so dass die Nadeln möglichst nahe an das Substrat geführt werden können. Dies ermöglicht, dass auch feinere Starrnadeln eingesetzt werden können und so auf kleinere Testpunkte mit kleineren Testpunktabständen kontaktiert werden kann.

Adapter für den Test von bestückten Substraten  

Bei Substraten mit vielen Bauteilen werden oft die vordersten Adapterplatten nicht mehr eingesetzt, so dass die Nadeln länger raus ragen.
Dieses Bild zeigt ist ein Adapter mit ø0.45mm Starrnadeln.
Richtwert für Starrnadeltypen:
- Starrnadel mit ø0.30mm bis 2.5mm Bauteilhöhe
- Starrnadel mit ø0.45mm bis 5.5mm Bauteilhöhe

     
Lichtleiter können von oben oder seitlich abgegriffen werden.   LED Überwachung im Adapter:
In gewissen Fällen muss auch ein optisches Signal (LED) geprüft werden, um den Zustand eines Elementes abzufragen. Dazu wird ein Lichtleiter im Starrnadeladapter integriert. Das Signal wird noch im Adapterin ein  elektrisches Signal umgewandeltund so an die Messtechnik übergeben. Die Lichtsignale können von oben oder seitlich abgegriffen werden.
     
Presseinheit zum Flachdrücken von durchgebogenen Leiterplatten  

Sonderkomponenten:
Hier im Bild ist eine "Flachpresseinheit" ersichtlich, welche durchgebogene Substrate flach drückt, damit diese dann auch vermessen und kontaktiert werden können. Als weitere Sonderkomponenten zählt sicherlich auch die Markierstation, bei welchen pro Produkt ein entsprechender farbiger Markierstift ausgewählt werden kann.

 

 

 

Technische Dokumente

Allgemeine Informationen zur Prüftechnik:

Messen

An folgenden Messen sind wir vertreten:

Wir freuen uns auf einen Messebesuch von Ihnen.

Die Firma MicroContact AG

Die Firma MicroContact AG ist seit 1984 in der Leiterplattenprüfung tätig und ist für die qualitativen Maschinen und Starrnadeladapter bekannt.

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